Neue Veröffentlichung in ACS Applied Materials & Interfaces
"Combining TEM, AFM, and Profilometry for Quantitative Topography Characterization Across All Scales" ist in ACS Applied Materials & Interfaces erschienen.
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Die Veröffentlichung wurde in Kollaboration mit der Gruppe von Tevis Jacobs an der Universität Pittsburgh verfasst und beschreibt die Charakterisierung von Oberflächenrauheit über acht Größenordnungen in Längenskala. Der Volltext kann hier aufgerufen werden: http://dx.doi.org/10.1021/acsami.8b09899
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